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            原子力顯微鏡探針 - 來寶百科

            原子力顯微鏡(AFM),是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。首臺原子力顯微鏡在1985年研發成功,其模式可分為接觸模式和輕敲模式等多種模式。AFM探針由于應用范圍僅限于原子力顯微鏡,屬于高科技儀器的耗材,應用領域不廣,全世界的使用量也不多。主要的生產廠家分布在德國,瑞士,保加利亞,美國等。由于的探針壽命短,分辨率不高也不穩定且一致性差,各國都在開發新型探針。  詳情 >
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